100 χιλιοστά GaN 4 ιντσών σε γκοφρέτα επιστρώματος Sapphire Επιταξιακή γκοφρέτα νιτριδίου γαλλίου

Σύντομη περιγραφή:

Το επιταξιακό φύλλο νιτριδίου του γαλλίου είναι τυπικός εκπρόσωπος της τρίτης γενιάς επιταξιακών υλικών ημιαγωγών ευρείας ζώνης, το οποίο έχει εξαιρετικές ιδιότητες όπως μεγάλο διάκενο ζώνης, υψηλή αντοχή πεδίου διάσπασης, υψηλή θερμική αγωγιμότητα, υψηλή ταχύτητα μετατόπισης κορεσμού ηλεκτρονίων, ισχυρή αντίσταση ακτινοβολίας και υψηλή χημική σταθερότητα.


Λεπτομέρεια προϊόντος

Ετικέτες προϊόντων

Η διαδικασία ανάπτυξης της δομής κβαντικού φρεατίου με μπλε LED GaN.Η λεπτομερής ροή της διαδικασίας έχει ως εξής

(1) Ψήσιμο υψηλής θερμοκρασίας, το υπόστρωμα ζαφείρι πρώτα θερμαίνεται στους 1050℃ σε ατμόσφαιρα υδρογόνου, ο σκοπός είναι να καθαριστεί η επιφάνεια του υποστρώματος.

(2) Όταν η θερμοκρασία του υποστρώματος πέσει στους 510 ℃, ένα ρυθμιστικό στρώμα χαμηλής θερμοκρασίας GaN/AlN με πάχος 30 nm εναποτίθεται στην επιφάνεια του υποστρώματος από ζαφείρι.

(3) Η άνοδος της θερμοκρασίας στους 10 ℃, το αέριο αντίδρασης αμμωνία, τριμεθυλογάλλιο και σιλάνιο εγχέονται, αντίστοιχα ελέγχουν τον αντίστοιχο ρυθμό ροής και αναπτύσσεται το GaN τύπου N με πρόσμειξη πυριτίου πάχους 4um.

(4) Το αέριο αντίδρασης τριμεθυλοαλουμινίου και τριμεθυλογαλλίου χρησιμοποιήθηκε για την παρασκευή ηπείρων Ν-τύπου Α⒑ με πρόσμιξη πυριτίου με πάχος 0,15um.

(5) InGaN με πρόσμειξη Zn 50 nm παρασκευάστηκε με έγχυση τριμεθυλγαλλίου, τριμεθυλινδίου, διαιθυλψευδαργύρου και αμμωνίας σε θερμοκρασία 8O0℃ και ελέγχοντας διαφορετικούς ρυθμούς ροής αντίστοιχα.

(6) Η θερμοκρασία αυξήθηκε στους 1020 ℃, τριμεθυλαλουμίνιο, τριμεθυλγάλλιο και δις (κυκλοπενταδιενυλ) μαγνήσιο εγχύθηκαν για να παρασκευαστούν 0,15 μm Mg ντοπαρισμένου τύπου P AlGaN και 0,5 μm Mg ντοπαρισμένης γλυκόζης αίματος P-τύπου G.

(7) Υψηλής ποιότητας φιλμ GaN Sibuyan τύπου P ελήφθη με ανόπτηση σε ατμόσφαιρα αζώτου στους 700℃.

(8) Χάραξη στην επιφάνεια στάσης G τύπου P για να αποκαλυφθεί η επιφάνεια στάσης N τύπου G.

(9) Εξάτμιση πλακών επαφής Ni/Au στην επιφάνεια p-GaNI, εξάτμιση πλακών επαφής △/Al στην επιφάνεια ll-GaN για σχηματισμό ηλεκτροδίων.

Προδιαγραφές

Είδος

GaN-TCU-C100

GaN-TCN-C100

Διαστάσεις

e 100 mm ± 0,1 mm

Πάχος

4,5±0,5 um Μπορεί να προσαρμοστεί

Προσανατολισμός

C-επίπεδο(0001) ±0,5°

Τύπος αγωγιμότητας

N-τύπου (Μη ενημερωμένο)

N-τύπου (Si-doped)

Αντίσταση (300K)

< 0,5 Q・cm

< 0,05 Q・cm

Συγκέντρωση φορέα

< 5x1017εκ-3

> 1x1018εκ-3

Κινητικότητα

~ 300 cm2/Vs

~ 200 cm2/Vs

Πυκνότητα εξάρθρωσης

Λιγότερο από 5x108εκ-2(υπολογισμένο από FWHM του XRD)

Δομή υποστρώματος

GaN στο Sapphire (Τυπικό: Επιλογή SSP: DSP)

Χρησιμοποιήσιμη επιφάνεια

> 90%

Πακέτο

Συσκευασμένο σε περιβάλλον καθαρού δωματίου κατηγορίας 100, σε κασέτες των 25 τμχ ή σε δοχεία μονής γκοφρέτας, σε ατμόσφαιρα αζώτου.

Αναλυτικό Διάγραμμα

WechatIMG540_
WechatIMG540_
vav

  • Προηγούμενος:
  • Επόμενο:

  • Γράψτε το μήνυμά σας εδώ και στείλτε το σε εμάς